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产品介绍 Product Info
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美国博曼(Bowman)公司长期从事于镀层测厚的研发应用,其目标是通过一个稳定、可靠、易用、低成本的XRF测量系统实现镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

 

BA-100  系列

BA-100 台式X射线荧光(XRF)镀层测厚仪——为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析,以及电镀液分析。

  

性能与可操作性的最优化

        紧凑式设计,改善效率和精度

        高分辨半导体固态探测器(Si-PIN),提高稳定性和灵敏度

        更短的预热时间,更长寿命的光管

        多种规格一次滤波器和准直器

        可变焦距适应复杂样品的测量需求

        模块化设计,方便维修、维护

 

简单的设计、强大的分析能力

        快速、无损的分析

        成份分析最多可达25种元素

        同时可最多分析5

        基于基本参数法的镀层和成份分析方法

        仅需一根USB线与电脑连接

        快捷的面板控制按钮

        占用空间小、轻量化设计

 

直观的用户界面

        最大的分析灵活性,减少用户出错机会

        基于Net framework框架的Xralizer软件

        直观的图标引导用户界面

        强大的定性、无标样分析功能

        功能强大的标准片库

        用于快速分析的可定制快捷键

        灵活的数据显示与导出

        强大的报告编辑生成器

 

常见的镀层应用: 

汽车 

    Cr/Ni/Cu/ABS 

    Zn/Fe

线路板 
Au/ENi/CuPCBENIG) 
Ag
Sn/CuPCB 
引线框架和连接器 
Au/Pd/Ni/Cu Alloys 
Au/Ni/Ni/Fe 
半导体行业 
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 
 紧固件 
ZnFe/Fe 
ZnNi/Fe 
切削工具 
TiCN/WCo 
TiAlN/WC 
五金和管道固定装置 
Ni/Cu 
Cr/Ni/Cu/Zn 
通讯和数据储存设备 
NiP/Al
珠宝、贵金属 
10,14,18Kt